1 拼音
G B Z / T 1 9 2 . 6 — 2 0 1 8 gōng zuò chǎng suǒ kōng qì zhōng fěn chén cè dìng dì 6 bù fèn ： chāo xì kē lì hé xì kē lì zǒng shù liáng nóng dù
2 英文參考
Determination of dust in the air of workplaces —part 6： Total number concentration of ultrafine and fine particles
3 基本信息
ICS 13.100
C 52
中華人民共和國國家職業衛生標準GBZ/T 192.6—2018 工作場所空氣中粉塵測定 第6部分：超細顆粒和細顆粒總數量濃度（Determination of dust in the air of workplaces —part 6： Total number concentration of ultrafine and fine particles）由中華人民共和國國家衛生健康委員會於2018年07月16日《關於發佈〈工作場所物理因素測量 第3部分：1Hz～100kHz電場和磁場〉等11項推薦性職業衛生標準的通告(國衛通〔2018〕13號)》（國衛通〔2018〕13號）發佈，自2019年07月01日起實施。
4 發佈通知
關於發佈《工作場所物理因素測量 第3部分：1Hz～100kHz電場和磁場 》等11項推薦性職業衛生標準的通告(國衛通〔2018〕13號)
國衛通〔2018〕13號
現發佈《工作場所物理因素測量 第3部分：1Hz～100kHz電場和磁場》等11項推薦性職業衛生標準，編號和名稱如下：
GBZ/T 189.3—2018 工作場所物理因素測量 第3部分：1Hz～100kHz電場和磁場 （代替GBZ/T 189.3—2007）
GBZ/T 192.6—2018 工作場所空氣中粉塵測定 第6部分：超細顆粒和細顆粒總數量濃度
GBZ/T 300.96—2018 工作場所空氣有毒物質測定 第96部分：七氟烷、異氟烷和恩氟烷
GBZ/T 300.100—2018 工作場所空氣有毒物質測定 第100部分：糠醛和二甲基甲烷（部分代替GBZ/T 160.54—2007）
GBZ/T 300.106—2018 工作場所空氣有毒物質測定 第106部分：氯丙酮
GBZ/T 300.116—2018 工作場所空氣有毒物質測定 第116部分：對甲苯磺酸
GBZ/T 300.128—2018 工作場所空氣有毒物質測定 第128部分：甲基丙烯酸酯類（部分代替GBZ/T 160.64—2004）
GBZ/T 300.161—2018 工作場所空氣有毒物質測定 第161部分：三溴甲烷
GBZ/T 300.162—2018 工作場所空氣有毒物質測定 第162部分：苯醌
GBZ/T 300.163—2018 工作場所空氣有毒物質測定 第163部分：甲苯二異氰酸酯
GBZ/T 300.164—2018 工作場所空氣有毒物質測定 第164部分：二苯基甲烷二異氰酸酯
上述標準自2019年7月1日起施行。GBZ/T 189.3—2007的全部內容、GBZ/T 160.54—2007中被代替內容、GBZ/T 160.64—2004中被代替內容同時廢止。
特此通告。
國家衛生健康委員會
2018年7月16日
5 前言
根據《中華人民共和國職業病防治法》制定本標準。
GBZ/T 192《工作場所空氣中粉塵測定》目前分爲6個部分：
——第1部分：總粉塵濃度；
——第2部分：呼吸性粉塵濃度；
——第4部分：遊離二氧化硅含量；
——第5部分：石棉纖維濃度；
本部分爲GBZ/T192的第6部分。
本部分按照GB/T 1.1—2009給出的規則起草。
本部分主要起草單位：浙江省疾病預防控制中心、北京市勞動保護科學研究所、中國疾病預防控制中心職業衛生與中毒控制所、浙江省醫學科學院、廣東省職業病防治院。
本部分主要起草人：張美辨、唐仕川、張敏、邢鳴鸞、鄒華、高向景、周莉芳、方興林、謝紅衛、趙海英、胡偉江、張幸、黃漢林、付朝暉、陳鈞強、程繼鵬、簡樂、常兵。
6 標準正文
工作場所空氣中粉塵測定 第6部分：超細顆粒和細顆粒測定總數量濃度
6.1 1 範圍
GBZ/T 192的本部分規定了工作場所空氣中超細顆粒和細顆粒總數量濃度的測定方法和技術要求。
本部分適用於工作場所空氣中超細顆粒和細顆粒總數量濃度的測定。
6.2 2 規範性引用文件
下列文件對於本文件的應用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用於本文件。
凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用於本文件。
GBZ/T 192.2 工作場所空氣中粉塵測定 第2部分：呼吸性粉塵濃度
6.3 3 術語和定義
以及下列術語和定義適用於本文件。
3.1
超細顆粒 ultrafine particles
納米顆粒 nanoparticles
當量粒徑小於100nm的顆粒。
3.2
細顆粒 fine particles
當量粒徑小於2500nm，大於100nm的顆粒。
3.3
團聚 agglomerate
超細顆粒之間較弱結合，團聚顆粒外部表面積與每個顆粒表面積的總和相似。
3.4
聚集 aggregate
超細顆粒之間很強結合，聚集顆粒外部表面明顯小於每個顆粒表面的總和。
3.5
納米材料 nanomaterial
在三維空間中至少有一維處於納米尺度範圍(1nm～100nm)或由它們作爲基本單元構成的材料，納米材料與相同化學組成的大尺寸物質比較，具有特殊的理化特性。
3.6
冷凝顆粒計數儀 condensation particle counter； CPC
一種可計數測定小粒徑氣溶膠顆粒的儀器。工作原理爲飽和蒸汽冷凝在超細顆粒上，使顆粒液滴粒徑生長到可光學檢測的尺寸。
3.7
顆粒數量濃度 particle number concentration
單位體積空氣中超細或細顆粒的個數，單位常以顆粒每立方厘米（P/cm3）表示。總數量濃度指超細顆粒和細顆粒數量濃度總和。
3.8
測量地點或勞動者接觸的顆粒總數量濃度與背景顆粒總數量濃度的比值，可反映顆粒產生源排放超細顆粒的程度。
3.9
檢測效率 detection efficiency
CPC測量值與真實值的比值，作爲CPC校準因子。
6.4 4 儀器
測量儀器爲CPC，測量顆粒總數量濃度（P/cm3）。最低配置要求：粒徑檢測範圍20 nm～3000nm，數量濃度檢測範圍1 P/cm3～100000 P/cm3，氣溶膠進口流量0.1L/min～5L/min。冷凝物爲分析純級別以上的異丙醇、正丁醇等醇類或者純淨水。CPC操作環境溫度0℃～40℃，對環境溼度要求不高。
6.5 5 方法
6.5.1 5.1 測量儀器的準備
5.1.1 測量儀器選擇：評估個體暴露優先選擇個體 CPC，評估工作場所暴露可選擇便攜式 CPC。
5.1.2 每次使用前，清理 CPC 氣溶膠進氣口過濾裝置，防止大顆粒或纖維的污染。
5.1.3 每次使用前，採用流量計對 CPC 氣溶膠進氣口流量進行校正，誤差在 5%以內。
5.1.4 每次使用前，在工作場所外等較清潔環境使用自帶的調零濾膜裝置對 CPC 進行調零。
5.1.5 每次使用前，更換冷凝物燈芯。每持續測量 4h，應更換一次冷凝物燈芯。
5.1.6 設置測量模式。採用記錄模式設定持續測量時間和數據記錄間隔時間（例如，1min 自動記錄一次數值），測量工作完成後數據可直接打印或下載至電腦進行進一步分析。數據顯示模式（直讀）可用於現場調查中的濃度篩檢，幫助識別顆粒產生源和混雜顆粒排放源。
6.5.2 5.2 顆粒產生源識別
採用信息收集、現場調查或濃度篩檢等方法來識別顆粒產生源，具體方法見附錄A。
6.5.3 5.3 顆粒屬性分析
聯合應用現場調查法和電鏡掃描法來確定待測顆粒名稱和屬性，具體方法見附錄B。
6.5.4 5.4 背景顆粒總數量濃度測量
6.5.4.1 5.4.1 測量地點
5.4.1.1 工作場所內背景顆粒：測量地點選擇在顆粒排放源相同工作場所內遠離作業區並且人員活動較少的區域。需預測背景濃度，排除待測區域中混雜顆粒排放源的影響。如果無法排除混雜顆粒的影響，或者作業活動 24h 無間斷，則選擇工作場所外大氣背景顆粒。
5.4.1.2 工作場所外大氣背景顆粒：如果工作場所採取機械通風，條件允許情況下，測量地點可設在進風口 1m 處；如果作業場所採取自然通風，測量地點選擇工作場所上風向窗口外 1m 處。
6.5.4.2 5.4.2 測量時間
同一天測量工作場所外大氣背景顆粒和工作場所內背景顆粒，宜連續測量半個小時以上，至少30個以上自動記錄數據。測量工作場所內背景顆粒時，應在作業活動之前測量。
6.5.5 5.5 作業活動顆粒總數量濃度測量
6.5.5.1 5.5.1 測量地點的選擇原則
採樣點的設置和採樣對象的選擇按照GBZ 159執行。定點採樣使用便攜式CPC，採樣器固定放置於工人工作的地點，採樣頭應放置於在採樣對象呼吸帶高度。個體採樣使用個體CPC，採樣頭佩帶在採樣對象的胸前，使其進氣口處於呼吸帶。
6.5.5.2 5.5.2 測量時間
測量活動應基於作業時間和作業活動的變化。測量時間至少覆蓋一個完整的作業活動，以長時間測量爲主（不少於1h），至少60個自動記錄數據以上。如果作業活動時間小於15min，則採取短時間測量，不少於15min，至少15個自動記錄數據以上。
6.5.5.3 5.5.3 顆粒總數量濃度計算和分析
如果顆粒總數量濃度數據符合正態分佈或濃度平穩，計算顆粒濃度的算術平均值；如果數據爲偏態分佈或波動較大，計算中位數或計算幾何均數。可從以下幾個方面分析顆粒總數量濃度：
a) 在沒有相應職業接觸限值可比較的情況下，計算 CR，CR 大於 1，提示有顆粒釋放；
b) 與背景值進行統計學比較，統計學差異顯著，提示有顆粒釋放；
c) 製作基於作業活動的時間數量濃度變化圖，分析顆粒總數量濃度的時間和空間分佈，動態觀察作業活動與顆粒總數量濃度關係；
6.6 6 測量記錄
記錄測量前CPC質量控制記錄，同時記錄氣象條件（溫度、氣壓和相對溼度）、待測顆粒名稱、儀器設備型號和設置參數、工程控制措施及個人防護、測量日期、測量起始時間、測量地點、產生待測顆粒和混雜顆粒的時間活動情況、測量濃度、校準後濃度等，並繪製現場檢測布點圖。測量記錄表見附錄C。
6.7 7 說明
7.1 測定結果用於超細顆粒關鍵崗位識別、半定量接觸評估、工程控制措施有效性評價以及設備泄漏評估。
7.3 由於超細顆粒實時測量的特殊性，CPC 需定期送至具備校準能力的專業實驗室進行校準，顆粒總數量濃度檢測效率等校準指標應符合 ISO 27891 要求，並應用相應粒徑和顆粒總數量濃度條件下的檢測效率對 CPC 實際測量值進行校準。
7.4 在實際測量實踐中應注意測量值低估或高估現象。工作場所氣溶膠顆粒的總數量濃度和粒徑對CPC 測量值影響較大。在顆粒總數量濃度接近 CPC 檢測限以下時（1 P/cm3～10 P/cm3），存在高估現象（一般偏差＜10P/cm3）。在總數量濃度接近 CPC 較高檢測限（例如 100000 P/cm3），存在低估現象，檢測效率一般在 0.9～1 之間。待測顆粒直徑在 10nm 以下，CPC 檢測效率一般在 0.8 以下，存在低估現象。
7.5 工作場所生產狀態不穩定或顆粒總數量濃度波動較大時，應連續檢測 3d；宜在不同的季節連續檢測 3d，以更好了解工作場所超細顆粒和細顆粒的總數量濃度變化。
7.6 CPC 的工作流程一般爲：氣溶膠中超細顆粒或細顆粒被抽入 CPC 進氣口，與加熱裝置所產生的飽和醇類蒸氣或飽和水蒸氣混合，在冷凝裝置作用下，蒸氣被冷凝在顆粒表面，變成顆粒液滴，顆粒粒徑增大，隨後進入光學檢測系統進行總數量濃度檢測，最後由 CPC 氣溶膠出氣口排出。
7.7 超細顆粒通過成核和蒸發/冷凝作用形成，工作場所超細顆粒常見產生源參見附錄 D。
7.8 超細顆粒通過團聚或聚集作用形成細顆粒或粒徑更大的顆粒。超細顆粒從顆粒產生源產生後，由於易團聚或聚集特性，在短時間內易形成粒徑分佈相對穩定的氣溶膠，長時間測量有助於反映超細顆粒團聚或聚集後粒徑分佈相對穩定的氣溶膠狀態。
7 附錄A（規範性附錄）顆粒產生源識別方法
7.1 A.1 識別顆粒產生源識別方法
7.1.1 A.1.1 信息收集
瞭解工藝流程、原料、輔料、產品、副產品、中間品等工作任務。如果待測顆粒爲納米材料及其細顆粒產品時，還應收集材料安全數據表（MSDS），瞭解其理化特性、粒徑、形態、可溶性和表面活性等。
7.1.2 A.1.2 現場調查
對生產區域和工序進行現場調查。生產納米材料或產生超細顆粒的工藝流程，納米原材料、副產品、中間品等的使用量和產量。還需調查每個工序的操作頻率和時間、處理和儲存納米材料的生產設備類型，調查機械通風或局部通風情況.重點關注以下關鍵環節：納米材料生產、處理或固體顆粒使用，對含有納米材料物質的研磨加工，包裝和採樣測試，生產設備的清理、維護及檢修。
7.1.3 A.1.3 濃度篩檢
在潛在顆粒產生源處，應用 CPC 直讀模式讀取瞬間顆粒總數量濃度，如果顆粒總數量濃度明顯高於背景顆粒總數量濃度，在排除混雜顆粒排放源（待測顆粒以外的混雜顆粒）影響後，找到待測顆粒產生源。避免在超出 CPC 數量濃度最高檢測限的環境條件下檢測。
8 附錄B（規範性附錄）顆粒屬性分析方法
8.1 B.1 確定待測顆粒名稱和屬性
8.1.1 B.1.1 現場調查法
通過信息收集和現場調查手段瞭解待測顆粒名稱和理化屬性。
8.1.2 B.1.2 電鏡掃描法
可選擇石英纖維濾膜、乙酸硝酸混合纖維濾膜、聚丙烯纖維濾膜或其他測塵濾膜，採用呼吸性粉塵採樣器或氣溶膠碰撞採樣器進行顆粒採樣，顆粒樣品採集方法按照 GBZ/T 192.2 執行。顆粒樣品送至實驗室進行掃描電鏡定性分析，樣品的準備和分析操作規程按照 JY/T 010 執行，分析指標爲顆粒化學元素組成和顆粒形態學（包括粒徑分佈和形態），根據實驗室提供的分析報告確定待測顆粒名稱和化學屬性。
